Pemeriksaan Slit Lamp (Biomikroskopi)[3]
Definisi
Slit lamp (biomikroskopi) adalah pemeriksaan mata menggunakan mikroskop binokular dengan sumber cahaya intensitas tinggi yang difokuskan menjadi sinar celah (slit beam). Pemeriksaan ini memungkinkan evaluasi detail segmen anterior dan sebagian segmen posterior mata. Slit lamp merupakan standar emas untuk pemeriksaan struktur segmen anterior mata.¹
Tujuan Pemeriksaan
Menilai struktur segmen anterior mata, termasuk kelopak, konjungtiva, kornea, bilik mata depan, iris, dan lensa.
Mendeteksi inflamasi, trauma, degenerasi, atau kelainan kongenital pada mata.
Mengevaluasi kondisi mata pascaoperasi.
Menilai segmen posterior (vitreus anterior dan fundus parsial) menggunakan lensa tambahan.
Membantu diagnosis penyakit mata yang memerlukan pemeriksaan detail morfologi.²
Alat dan Bahan
Slit lamp biomicroscope
Filter biru kobalt untuk evaluasi fluorescein (menilai abrasi, ulkus, dan Seidel test)
Lensa tambahan (lensa 90D, fundus lens, gonioskop) untuk pemeriksaan retina, vitreus, atau sudut bilik mata depan³
Cara Pemeriksaan
1. Persiapan
Pasien duduk di kursi slit lamp dengan dagu di chin rest dan dahi menempel pada forehead band.
Sesuaikan tinggi kursi dan slit lamp agar pasien nyaman.
Atur pembesaran awal (10–16×).
2. Pemeriksaan Struktur Eksternal
Amati kelopak mata, bulu mata, dan margin palpebra.
Periksa konjungtiva bulbi dan palpebra.
3. Pemeriksaan Kornea
Gunakan beam tipis (optical section) untuk menilai lapisan kornea (epitel, stroma, endotel).
Gunakan beam difus untuk menilai kejernihan kornea.
Gunakan filter biru kobalt + fluorescein untuk melihat defek epitel atau kebocoran aqueous (Seidel test).
4. Pemeriksaan Bilik Mata Depan
Gunakan beam sempit oblique.
Amati kejernihan aqueous dan adanya sel, flare, hifema, atau hipopion.
5. Pemeriksaan Iris
Periksa pola kriptus, warna, nodul, sinekia anterior/posterior, dan neovaskularisasi iris.
6. Pemeriksaan Lensa
Gunakan optical section untuk menilai kapsul anterior, korteks, nukleus, dan kapsul posterior.
Identifikasi katarak (kortikal, nuklear, subkapsular), subluksasi, atau pseudofakia.
7. Pemeriksaan Segmen Posterior (dengan lensa tambahan)
Gunakan lensa fundus (78 D/90 D) atau gonioskop untuk menilai retina, vitreus anterior, dan sudut bilik mata depan.⁴
Temuan Klinis dan Kemungkinan Diagnosis
Kornea jernih → normal; buram/edema/infiltrat → keratitis, glaukoma akut, trauma.
Sel dan flare di bilik mata depan → tanda uveitis anterior.
Hifema → trauma atau neovaskularisasi iris.
Hipopion → ulkus kornea infektif atau endoftalmitis.
Katarak nuklear/kortikal/subkapsular → penyebab utama gangguan visus pada usia lanjut.
Neovaskularisasi iris (rubeosis iridis) → komplikasi retinopati diabetik atau oklusi vena sentral retina.
Pseudofakia/afakia → kondisi pasca operasi katarak.
Abnormalitas fundus anterior (melalui lensa 90D) → edema papil, retinopati, ablasi retina.⁵
Korelasi Klinis
Slit lamp adalah pemeriksaan wajib dalam oftalmologi modern.
Alat ini memungkinkan dokter mata menegakkan diagnosis akurat berdasarkan gambaran morfologi yang detail.
Pemeriksaan sederhana seperti penggunaan fluorescein dapat dilakukan di layanan primer. Namun, evaluasi lengkap segmen anterior dan posterior memerlukan slit lamp di klinik spesialis.⁶